基于相控阵超声检测参数的研究

• 作者: 余刚
• 来源期刊: 科技风
• 学科: 工学
• 关键词: 相控阵超声检测 参数 研究
• 年，卷（期）: 2011,（23）
• 所属期刊栏目: 应用科技
• 页码范围: 105-106
• 分类号: TN821.8
• 字数: 2446字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7341.2011.23.091

摘要

应用相控阵超声检测众多参数的可调节性,推导了相控阵超声波分布状态,提出调节晶片数目、发射频率、偏转角度为基础的研究方法。讨论了晶片数目、发射频率、偏转角度对其它检测参数的影响和检测结果的相关性,以及检出的限制条件。设计了当不同的晶片数值、发射频率、偏转角度进行验证。实验测得各种变量得到的结果分布、实验值与理论设计基本一致。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余刚	南昌航空大学测试与光电工程学院	3	3	1.0	1.0