思博伦完成业界第一次商用LTE芯片组数据性能基准测试

• 来源期刊: 电信网技术
• 学科: 工学
• 关键词: 基准测试 芯片组 LTE 性能 商用 Wireless Michael 组数
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 网络技术——物联网技术与应用专题
• 页码范围: 5-5
• 页数: 1页
• 分类号: TP393
• 语种: 中文

摘要

近日,Signals Research（SRG）公布业界第一次,也是惟一一次对商用LTE芯片组独立进行数据性能基准测试的结果。采用Spirent 8100解决方案和基于实验室的测试方法,SRG收集并分析了来自LG,Sierra Wireless,Novatel Wireless,三星和富士通的5种商用设备的数据性能,而这些设备采用了来自4家不同厂商的芯片组。Signals Research首席执行官Michael Thelander指出：＂总体而言,整个行业在过去的几年中取得了巨大的进步,