时序PLD安全缺陷检测方法研究

• 作者: 曾光裕 李清宝 陈志锋
• 来源期刊: 计算机科学
• 学科: 工学
• 关键词: 可编程逻辑器件 状态转移图 安全缺陷检测
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 计算机网络与信息安全
• 页码范围: 53-56,79
• 分类号: TP393.08
• 字数: 3287字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-137X.2012.05.011

摘要

可编程逻辑器件(PLD)在电子设备中广泛应用,其安全缺陷检测已成为信息安全领域中一个富有挑战性的课题.通过分析PLD安全缺陷的存在形式.提出了基于状态转移图的安全缺陷检测方法.该方法统一了检测思路,采用了脱机式芯片逆向分析和在线式芯片逆向分析相结合的技术,适用于不同的PLD安全缺陷检测,同时根据存在形式提出了检测算法.最后通过模拟测试对该检测思路及算法的有效性进行了验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李清宝		52	223	7.0	12.0
2	陈志锋		10	55	5.0	7.0
3	曾光裕		17	61	5.0	7.0