基于QCA可编程逻辑阵列单元的元胞缺陷研究

• 作者: 李政操 蔡理 黄宏图
• 来源期刊: 微纳电子技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 量子元胞自动机(QCA) 可编程逻辑阵列(PLA) 元胞缺失 移位缺陷 未对准缺陷
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 器件与技术
• 页码范围: 222-227
• 分类号: O471.1
• 字数: 2322字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4776.2012.04.002

摘要

介绍了一种量子元胞自动机(QCA)可编程逻辑阵列结构,该结构可用于实现量子元胞自动机大规模可编程逻辑电路,采用QCADesigner仿真软件研究了元胞缺失、移位缺陷和未对准缺陷对可编程逻辑阵列单元逻辑功能的影响.得出了特定结构下,每个元胞移位缺陷和未对准缺陷的最大错位距离,以及导线模式中存在特定位置的8个可缺失元胞.这为缺陷单元的应用提供了一个具体的参数标准,提高了PLA阵列的单元利用率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡理	空军工程大学理学院	136	382	8.0	11.0
2	李政操	空军工程大学理学院	12	35	4.0	5.0
3	黄宏图	空军工程大学理学院	14	47	5.0	6.0