充电系统可靠性的置信下限

• 作者: 杨利升 郑海鹰
• 来源期刊: 温州大学学报（自然科学版）
• 学科: 数学
• 关键词: 充电系统 可靠性 置信下限
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 数学
• 页码范围: 8-15
• 分类号: O213.2
• 字数: 4040字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3875/j.issn.1674-3563.2012.02.002

摘要

利用充电设备的定时截尾寿命实验数据和转换开关的成败型实验数据,对充电系统可靠性的置信下限进行了研究.在转换开关不完全可靠的情况下,给出了充电系统可靠性的表达式,求出了充电系统可靠性的精确Fiducial置信下限,进而用拟合法和MML法分别求出了充电系统可靠性的近似置信下限,数值模拟结果说明这两种方法都是可行的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑海鹰	温州大学数学与信息科学学院	39	144	7.0	9.0
2	杨利升	温州大学数学与信息科学学院	3	2	1.0	1.0