IGBT高压串联组件的失效检测与恢复策略

• 作者: 同向前 宁大龙
• 来源期刊: 西安理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: IGBT串联组件 IGBT失效 开路故障 旁路开关
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 页码范围: 210-215
• 分类号: TM46
• 字数: 3904字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-4710.2012.02.016

摘要

针对IGBT串联组件中失效器件导致整个装置异常的问题,提出了一种IGBT器件开路失效的检测方法与组件功能恢复策略.从IGBT的内部结构分析了器件失效机理,借助于IGBT驱动电路监测组件中各个IGBT的状态,根据状态反馈对IGBT器件的开路失效故障进行诊断和定位,针对IGBT的开路失效故障,设计了在串联组件阻断后吸合相应旁路开关以恢复组件功能的重启动策略.建立了串联组件中IGBT失效监控实验系统.实验结果表明该系统能准确识别组件内失效的IGBT器件,并及时可靠地恢复了IGBT串联组件的正常开关功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	同向前	西安理工大学自动化与信息工程学院	131	1950	24.0	40.0
2	宁大龙	西安理工大学自动化与信息工程学院	5	59	4.0	5.0