阿伏加德罗常数测量研究最新进展

• 作者: 张继涛 罗志勇 赵克功
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 阿伏加德罗常数 硅球 摩尔质量 直径 氧化层
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 页码范围: 39-42
• 分类号: TB91
• 字数: 3443字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-1158.2012.01.09

摘要

综述了阿伏加德罗常数(NA)测量研究的最新进展.介绍了目前测NA准确度较高的方法-X射线晶体密度法,该方法通过测量单晶硅的摩尔质量、宏观密度和晶格常数得到NA.采用X射线晶体密度法有望实现NA相对测量不确定度达到2×10-8.分析了当前限制NA测量准确度提高的关键研究内容:单晶硅摩尔质量、硅球直径和表面氧化层厚度的测量.并展望了NA测量未来的工作方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗志勇		35	216	8.0	13.0
2	赵克功		10	151	7.0	10.0