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统计过程控制(SPC)技术在紫外像管制作中的应用
统计过程控制(SPC)技术在紫外像管制作中的应用
作者:
潘书山
耿雨升
高永斌
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
紫外
像增强管
统计过程控制技术
工序能力指数
控制图
摘要:
采用统计过程控制(SPC)技术对关键工序进行监控是保持产品生产线稳定、减少质量波动的有效方法.可以提高产品的成品率和可靠性.在现有工序状态下,通过采集封接温度、真空度等数据,计算和分析关键工序的工序能力指数,进行工艺调整和改进,直到工序能力指数Cpk≥1.33.通过选择控制图,对数值进行监控.若发现工序失控时,分析原因并及时采取纠正预防措施,就能有效保证工艺的一致性和稳定性,提高工艺成品率.
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文献信息
篇名
统计过程控制(SPC)技术在紫外像管制作中的应用
来源期刊
光电子技术
学科
工学
关键词
紫外
像增强管
统计过程控制技术
工序能力指数
控制图
年,卷(期)
2012,(3)
所属期刊栏目
专题介绍
研究方向
页码范围
210-216
页数
分类号
TN23
字数
4446字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1005-488X.2012.03.014
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
潘书山
中国人民解放军空军驻七七二厂军事代表室
4
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2
高永斌
2
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耿雨升
1
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传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
紫外
像增强管
统计过程控制技术
工序能力指数
控制图
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光电子技术
主办单位:
南京电子器件研究所
出版周期:
季刊
ISSN:
1005-488X
CN:
32-1347/TN
开本:
16开
出版地:
南京中山东路524号(南京1601信箱43分箱)
邮发代号:
创刊时间:
1981
语种:
chi
出版文献量(篇)
1338
总下载数(次)
4
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