改进型QCA共面交叉电路的可靠性分析

• 作者: 吕洪君 岳洋洋 解光军
• 来源期刊: 微纳电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 量子元胞自动机(QCA) 概率转移矩阵 共面交叉 数据选择器 可靠性
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 器件与技术
• 页码范围: 369-374
• 分类号: TN406
• 字数: 2789字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4776.2012.06.003

摘要

针对量子元胞自动机(QCA)电路中电路单元复杂化能提高电路可靠性的假设,采用概率转移矩阵对一种改进后的QCA共面交叉电路单元及原始电路单元的可靠性进行对比分析,以检验复杂化设计能否提高电路可靠性,并利用四选一数据选择器进行深入研究以验证分析结果.仿真结果表明:该改进方案将共面交叉电路单元应用于单独运行及组合电路中分别使电路的可靠性降低了19.6％和0.84％.改进后的电路单元不但没有提高可靠性,反而由于电路结构的复杂化降低了其可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	解光军	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	101	626	13.0	20.0
2	吕洪君	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	28	116	6.0	9.0
3	岳洋洋	合肥工业大学电子科学与应用物理学院	2	11	2.0	2.0