热处理对富硅氧化硅薄膜中硅纳米晶形成的影响

• 作者: 唐为华 崔灿 李培刚 梁大宇 沈洪磊 蔡雅楠
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 工学
• 关键词: 硅纳米晶 氧化硅薄膜 热处理
• 年，卷（期）: 2012,（15）
• 页码范围: 494-499
• 分类号: TN305.3
• 语种: 中文

摘要

采用磁控溅射法制备了富硅氧化硅薄膜,然后分别经过一步热处理、两步热处理和快速热处理制备了镶嵌有硅纳米晶的氧化硅薄膜.实验结果表明,在硅含量为～42.63 at.%的富硅氧化硅薄膜中,三种热处理均能形成10~（12）/cm~2量级的硅纳米晶.其中在两步热处理中,硅纳米晶的密度最高,达到2.2×10~（12）/cm~2,并且尺寸均匀、结晶完整性好;一步热处理后的样品中,硅纳米晶密度较低,并且部分纳米晶结晶不充分;快速热处理后的样品中,硅纳米晶密度最低、尺寸分布不均匀,并且存在孪晶结构.分析认为,热处理初始阶段的形核过程对纳米晶的密度及微观结构有着重要的影响,两步热处理中的低温段促进了纳米晶的成核,有助于形成高密度高质量硅纳米晶.