单畴外延铁电薄膜的相结构与稳定性

• 作者: 周志东 张春祖 蒋泉
• 来源期刊: 固体力学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 金茨堡朗道方程 铁电相图 尺寸效应 松弛应变
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 页码范围: 258-264
• 分类号: O484.5
• 字数: 4659字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-7805.2012.03.004

摘要

论义采用动态金茨堡-朗道(DGL)方程研究了薄膜厚度与错配应变对(001)取向单畴外延PbTiO3(PTO)铁电薄膜相结构与稳定性的影响,结合平面内松弛应变(等效应变)、表面效应与退极化场等机电耦合边界条件,通过数值求解DGL方程获得外延单畴铁电薄膜错配应变厚度相图和错配应变温度相图.数值分析结果显示,由于生成的界面位错松弛了薄膜内错配应变,在理论高应变区相图与传统分析结果有较大差别,文中发现在更广的理论错配拉应变区出现稳定的四方相(c相)结构和单斜相(r相)结构.结果也显示,随着薄膜厚度的减小,表面效应与退极化效应会把顺电相扩展到更低温度区域,从而压缩稳定的铁电相存在的温度区域.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周志东	厦门大学材料学院材料科学与工程系	17	24	3.0	3.0
5	张春祖	厦门大学建筑与土木工程学院土木工程系	2	4	1.0	2.0
6	蒋泉	南通大学建筑工程学院	22	26	3.0	4.0