基于Zernike正交矩的亚像素图像线宽测量算法

• 作者: 王伯雄 秦垚 罗秀芝
• 来源期刊: 光学技术
• 学科: 工学
• 关键词: 线宽检测 Zernike正交矩 微粒标定
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 信息光学与图像处理
• 页码范围: 729-733
• 分类号: TP391.41
• 语种: 中文

摘要

针对图像内的细窄线宽,提出了一种基于Zernike正交矩的亚像素图像线宽检测算法.该算法具有明确的几何模型,通过计算图像的2阶和4阶Zernike正交矩,推导出了亚像素线宽表达式.根据数字图像的离散性,给出了计算正交矩所需的模板系数,并分析了由离散性造成的原理误差.将所提出的亚像素线宽检测技术应用于安瓿内异物粒径的标定实验,结果表明:该算法可有效地测量弱小目标在图像中的亚像素线宽值,从而得到了异物粒径大小与亚像素线宽之间的标定曲线.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王伯雄	清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室	68	667	12.0	24.0
2	罗秀芝	清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室	40	346	10.0	18.0
3	秦垚	清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室	7	20	3.0	4.0