晶体管中子损伤常数的测量以及不确定度分析

• 作者: 刘岩 李达 杨善潮 林东生 王桂珍 白小燕 金晓明
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 不确定度 损伤常数 迭代法 西安脉冲反应堆 自变量 因变量
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 半导体检测与测试技术
• 页码范围: 83-86
• 分类号: TN32|TL81
• 字数: 2672字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2012.01.018

摘要

在西安脉冲反应堆上,利用自建的晶体管放大倍数在线测试系统测量了型号为2N2222A的晶体管放大倍数,获得了放大倍数随中子注量的变化曲线.晶体管放大倍数的倒数和中子注量之间有良好的线性关系,利用最小二乘法对该线性关系进行拟合,得到晶体管的中子损伤常数.重点在于对损伤常数不确定度的评定.详细给出了不确定度评定的过程,分析了过程中的各种不确定度来源并对它们逐一进行了计算.不确定度评定的难点在于利用最小二乘法拟合损伤常数过程中如何同时考虑自变量和因变量的不确定度.这个问题在实际问题中很少被碰到.并引入迭代的思想,在现有的数据处理工具基础上简单有效地解决了该问题,避免了复杂运算.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林东生		33	148	8.0	10.0
2	王桂珍		32	156	7.0	9.0
3	杨善潮		28	101	6.0	7.0
4	白小燕		15	73	6.0	7.0
5	金晓明		11	16	2.0	2.0
6	刘岩		10	36	3.0	5.0
7	李达		8	26	3.0	5.0