32Si半衰期的加速器质谱测量方法研究

• 作者: 何明 姜山 李恒 李振宇 武绍勇 胡豪 董克君 郑国文
• 来源期刊: 质谱学报
• 学科: 化学
• 关键词: 32Si 加速器质谱 半衰期 绝对测量
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 241-246
• 分类号: TL817.4|O657.63
• 字数: 3630字
• 语种: 中文

摘要

32Si是宇宙射线与空气中的Ar通过散裂反应产生的长寿命放射性核素,利用32Si可以开展广泛的应用研究.然而作为放射性核素关键数据的32Si半衰期数据仍然存在较大的偏差,这在很大程度上阻碍了32Si 的应用.本工作利用中国原子能科学研究院的加速器质谱系统开展了32 Si半衰期的测量.通过反应堆辐照Mg2 P2 O7生产32Si并制备出用于加速器质谱测量和活度测量的样品；利用加速器质谱技术进行了32Si/Si绝对比值的测定；通过液闪对样品进行了放射性活度测量,从而实现了32Si半衰期的测定,得到32Si的半衰期值为(182±16)a.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜山		60	194	8.0	11.0
2	何明		64	202	8.0	11.0
3	武绍勇		26	74	4.0	8.0
4	董克君		20	63	5.0	7.0
5	李恒	广西大学物理科学与工程技术学院	8	12	2.0	3.0
6	郑国文		7	5	2.0	2.0
7	李振宇		1	2	1.0	1.0
8	胡豪		1	2	1.0	1.0