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基于双脉冲的IGBT及驱动电路测试方法
基于双脉冲的IGBT及驱动电路测试方法
作者:
李征
蒋玉想
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
双脉冲
绝缘栅双极型晶体管
驱动电路
测试
摘要:
文章设计了双脉冲测试电路,可以方便地测量IGBT在实际电路中的开关特性与损耗,调节电感的大小与脉冲宽度,可以测试驱动电路的过流保护、短路保护、电压钳位功能,反映了IGBT在实际应用中的动态性能,同时可以计算平面母线的杂散电感,取得了较好的效果.
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内容分析
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关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
基于双脉冲的IGBT及驱动电路测试方法
来源期刊
电子技术
学科
工学
关键词
双脉冲
绝缘栅双极型晶体管
驱动电路
测试
年,卷(期)
2012,(7)
所属期刊栏目
电子测量技术
研究方向
页码范围
78-80
页数
分类号
TN322.8
字数
2078字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1000-0755.2012.07.027
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
李征
东华大学信息科学与技术学院
56
328
11.0
15.0
2
蒋玉想
东华大学信息科学与技术学院
1
42
1.0
1.0
传播情况
被引次数趋势
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引文网络
引文网络
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参考文献(1)
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参考文献(0)
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引证文献(0)
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引证文献(1)
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2014(7)
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2015(4)
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2017(11)
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2019(13)
引证文献(9)
二级引证文献(4)
2020(3)
引证文献(2)
二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
双脉冲
绝缘栅双极型晶体管
驱动电路
测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子技术
主办单位:
上海市电子学会
上海市通信学会
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-0755
CN:
31-1323/TN
开本:
大16开
出版地:
上海市长宁区泉口路274号
邮发代号:
4-141
创刊时间:
1963
语种:
chi
出版文献量(篇)
5480
总下载数(次)
19
总被引数(次)
22245
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