熔淬态非晶带中晶化相数量密度的确定

• 作者: 张国祥 张淑兰 桂强 王立军
• 来源期刊: 金属功能材料
• 学科: 工学
• 关键词: 非晶带 晶粒 数量密度 透射电子显微镜
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 16-19
• 分类号: TG139.8
• 字数: 1146字
• 语种: 中文

摘要

本文利用透射电子显微镜对进口和国产非晶带材的非晶化程度进行了精确测定.结果表明,XRD实验只能粗略的判定材料是否为非晶态；进口带材在熔淬态下为完全的非晶态,而国产带材并非完全的非晶态,其磁性相α-Fe(Si)的尺寸为100nm左右,数量密度大约为1015 m-3数量级.