Sn1-xBixO2纳米粉体的制备及其表征

• 作者: 乔秀清 杨辉 樊先平 申乾宏 穆成法 陈乐生
• 来源期刊: 电工材料
• 关键词: SnO2 Bi掺杂 纳米粉体 晶粒尺寸 密度 电接触材料
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 研究·分析
• 页码范围: 3-6,10
• 页数: 5页
• 分类号: TM205.+1
• 语种: 中文

摘要

以SnCl4·5H2O和BiCl3为原料,采用化学共沉淀法制备了不同Bi掺杂量的SnO2纳米粉体,利用热重-差热(TG-DTA)、X射线衍射(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)对制备的粉体进行了表征.结果表明,当Bi掺杂量低于30％时,SnO2纳米粉体的晶体结构保持为金红石四方相结构,Bi原子部分置换了Sn的位置；当掺杂量为30％时,开始形成杂质相BiOCl.掺杂Bi元素可细化SnO2纳米晶粒,经700℃焙烧后,未掺杂Bi元素的SnO2晶粒尺寸约为29 nm,而掺杂Bi元素的SnO2晶粒尺寸约为10 nm.此外,Bi元素的掺杂还可在一定程度上提高SnO2粉体的密度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	申乾宏	浙江大学材料科学与工程学系	54	459	13.0	19.0
5	樊先平	浙江大学材料科学与工程学系	56	517	12.0	20.0
9	陈乐生		5	3	1.0	1.0
13	乔秀清	浙江大学材料科学与工程学系	5	33	2.0	5.0
14	穆成法		2	2	1.0	1.0