基于TDC芯片的LCR参数测量仪

• 作者: 戴志坚 李玲 田书林
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 时间数字转换器(TDC) 相位测量 阻抗测量
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 测试工具与解决方案
• 页码范围: 62-65
• 分类号: TP216
• 字数: 1261字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2012.01.015

摘要

在采用矢量电流电压法测量阻抗时,目前大多采用两种方法来实现阻抗矢量虚实部的分离。一种是通过相敏检波器来实现,另一种是通过高速ADC采样信号,通过比较零点位置获取相位差信息来实现。前一种方法实现复杂且测量速度不易提高,后面的一种测量方法成本太高。本文主要介绍将TDC芯片应用于经典的电流电压法阻抗测量中,用TDC芯片获取被测信号的相位差信息,从而实现复阻抗实部与虚部分离的新方法,在降低成本的同时实现高精度LCR参数测量。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田书林	电子科技大学自动化工程学院	136	1001	16.0	25.0
2	李玲	电子科技大学自动化工程学院	9	28	3.0	5.0
3	戴志坚	电子科技大学自动化工程学院	40	248	9.0	13.0