综合包级和类级度量的软件缺陷预测方法

• 作者: 彭鑫 潘森 谭曦 赵文耘
• 来源期刊: 计算机科学与探索
• 学科: 工学
• 关键词: 缺陷预测 软件测试 软件度量
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 学术研究
• 页码范围: 109-117
• 分类号: TP311.5
• 字数: 5993字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1673-9418.2012.02.002

摘要

在基于软件产品度量值的缺陷预测中,度量值主要是基于两个层次:类/文件层次和包/组件层次.类级别的预测模型通常会有更好的预测效率,而包级别的模型往往能得到更好的查全率及查准率.提出综合类级别和包级别度量值进行缺陷预测的方法,在类级别预测的基础上,使用包级别预测的信息对类级别进行调整,在类级别预测中融合包级别预测中所隐含的问题域信息.通过基于Eclipse3.0系统的实验发现,该方法能够有效改善缺陷预测的效果.与类级别的缺陷预测模型相比,综合包级别度量值的缺陷预测方法提高了5％到8％的查全率.同时在预测效率上,测试出50％的缺陷,使用该方法可以有效减少3.6％到9.84％的代码检查量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭鑫	复旦大学计算机科学技术学院	96	641	15.0	19.0
2	赵文耘	复旦大学计算机科学技术学院	154	1327	20.0	28.0
3	潘森	复旦大学计算机科学技术学院	2	5	1.0	2.0
4	谭曦	复旦大学计算机科学技术学院	1	4	1.0	1.0