烧结温度对低压ZBCMTV压敏电阻性能的影响

• 作者: 巨锦华
• 来源期刊: 电工材料
• 关键词: 烧结温度 压敏电阻 电学性能
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 研究·分析
• 页码范围: 20-23
• 分类号: TM283
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-8887.2012.01.005

摘要

采用固相反应法制备了低压ZnO-Bi2O3-Co2O3-MnCO3-TiO2-V2O5 (ZBCMTV)压敏电阻,借助扫描电子显微镜、压敏电阻直流参数仪、阻抗分析仪等研究了烧结温度对压敏电阻的微结构、压敏性能和介电性能等的影响.结果表明,在较低烧结温度(980℃)下,ZBCMTV压敏电阻综合性能最好；晶粒发育比较完全,粒径大小较均一,平均粒径约13.9 μm;压敏电压梯度为109.7 V/mm,漏电流密度最小为0.015 μA/mm2,非线性系数最大为27.8.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	巨锦华		1	0	0.0	0.0