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摘要:
室温下,利用直流磁控溅射法在玻璃衬底上制备了铌掺杂氧化锌(NZO)薄膜,研究了溅射压强(2~12 Pa)对薄膜结构、残余应力、表面形貌及其光电性能的影响.X射线衍射测量结果表明,所有样品都具有c轴择优取向的六角纤锌矿多晶结构,薄膜应力随压强的增大而减小.扫描电镜表明,随着溅射压强的增大,薄膜表面逐步趋向平整光滑、均匀致密.当溅射压强为10 Pa时,制备的ZnO∶Nb薄膜的最低电阻率可达3.52× 10-4 Ω·cm,残余应力为-0.37 GPa.压强由2Pa增大到12 Pa时,光学带隙由3.29eV增大到3.43 eV.紫外-可见透射光谱表明,所有薄膜在可见光范围内平均透过率均超过87%.
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文献信息
篇名 氩气压强对直流磁控溅射法制备ZnO:Nb透明导电薄膜性质的影响
来源期刊 真空科学与技术学报 学科 物理学
关键词 ZnO:Nb薄膜 溅射压强 透明导电薄膜 磁控溅射
年,卷(期) 2012,(11) 所属期刊栏目 功能薄膜
研究方向 页码范围 974-977
页数 分类号 O484.4
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-7126.2012.11.05
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 袁玉珍 山东理工大学理学院 26 159 7.0 11.0
2 刘汉法 山东理工大学理学院 57 316 11.0 13.0
3 周爱萍 山东理工大学理学院 17 53 3.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
ZnO:Nb薄膜
溅射压强
透明导电薄膜
磁控溅射
研究起点
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真空科学与技术学报
月刊
1672-7126
11-5177/TB
大16开
北京市朝阳区建国路93号万达广场9号楼614室
1981
chi
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