基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
推荐文章
基于 FLASH-March算法的 FLASH缺陷检测系统
FLASH
缺陷
FLASH-March算法
FPGA
Android平台Flash游戏设计
Android平台
Flash游戏
躲避
跨平台应用
Flash Builder
基于JTAG技术的Flash加载
边界扫描
边界扫描国际标准
在板编程
在线编程
系统编程
NAND Flash存储关键技术
NAND Flash
坏块管理
数据存储
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 A HistogramBased Static Error Correction Technique for Flash ADCs: Implementation
来源期刊 中兴通讯技术:英文版 学科 工学
关键词 校正技术 静态误差 ADC 模数转换器 校准技术 闪速 CMOS工艺 模拟测试
年,卷(期) 2012,(1) 所属期刊栏目 ResearchPapers
研究方向 页码范围 63-70
页数 8页 分类号 TN957.51|TP273
字数 语种 英文
DOI
五维指标
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (8)
共引文献  (0)
参考文献  (4)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1984(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1998(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2001(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2004(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2005(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2006(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2008(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2009(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2010(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2011(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2012(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
校正技术
静态误差
ADC
模数转换器
校准技术
闪速
CMOS工艺
模拟测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中兴通讯技术(英文版)
季刊
1673-5188
34-1294/TN
大16开
合肥市金寨路329号凯旋大厦12楼
2003
eng
出版文献量(篇)
580
总下载数(次)
0
论文1v1指导