数字晶体管f_T测试误差分析

• 作者: 沈源生 王品英 王晶霞 缪国平
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 数字晶体管 特征频率fT 恒流源
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 9-12,19
• 页数: 5页
• 分类号: TN307
• 字数: 1906字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2012.04.003

摘要

特征频率fT是数字晶体管的一项重要参数。文章叙述了普通晶体管特征频率fT的测试原理,并从模拟数字晶体管的等效电路着手,通过理论推导,深入分析了fT产生测试误差甚至无法测量的原因。指出基极串联电阻的接入破坏了基极注入信号必须是恒流的测试条件;基极-发射极并联电阻的接入对测试信号起到了分流作用。在这两方面共同作用下,经被测管放大后的集电极信号减小,导致增益下降,必然会产生很大的测试误差。同时文中进行了一系列的试验,与分析结果相符合,并分别给出了串联电阻和并联电阻对fT影响程度的具体数据及曲线图,可为数字晶体管的生产厂商和使用单位的有关人员提供帮助,也可供测试仪器制造厂家的研发人员作为参考。