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摘要:
本文基于电致发光(Electroluminescence,EL)的理论,利用近红外检测的方法,通过CCD近红外相机检测出了晶体硅太阳电池及组件中常见的隐性缺陷。这些缺陷包括:硅材料缺陷、扩散缺陷、印刷缺陷、烧结缺陷以及组件封装过程中的裂纹等,并简要分析了造成这些缺陷的原因。
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 晶体硅火阳电池及组件EL测试介绍
来源期刊 电讯工程 学科 工学
关键词 太阳电池 电致发光 电池缺陷
年,卷(期) 2012,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 54-57
页数 4页 分类号 TN383.1
字数 语种
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 孙柯 西安黄河光伏科技股份有限公司品质管控部 5 6 2.0 2.0
2 李景华 西安黄河光伏科技股份有限公司品质管控部 2 4 1.0 2.0
3 林晨 西安黄河光伏科技股份有限公司品质管控部 2 4 1.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
太阳电池
电致发光
电池缺陷
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电讯工程
半年刊
西安室45号信箱情报室
出版文献量(篇)
874
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