纳米CuCr50触头材料电弧侵蚀特性

• 作者: 李慧杰 李震彪 王珂 赵来军 邱安宁
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米材料 CuCr材料 燃弧时间 电弧侵蚀
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: IECEPE2011 会议论文精选
• 页码范围: 15-19
• 分类号: TM206|TB383
• 字数: 3267字
• 语种: 中文

摘要

近年来,纳米CuCr触头材料在截流水平、耐压能力等方面的表现优于微晶CuCr触头材料.笔者利用真空触点模拟装置和基于虚拟仪器的电器电寿命测试系统,研究了直流低电压、小电流下的纳米CuCr50触头材料的电孤侵蚀量与分断燃弧时间和触头表面形貌之间的关系,同时采用两种微晶CuCr50触头材料作为对比.利用电光分析天平纳米CuCr50触头材料的侵蚀量,利用电子扫描显微镜测量触头表面形貌.结果表明:纳米CuCr50触头材料的平均分断燃孤时间和侵蚀量均高于两种微晶CuCr50触头材料.纳米CuCr50触头表面Cr颗粒细化及均匀分布,有利于分散电弧.纳米CuCr50阴极触头表面电弧烧蚀比较均匀,而两种微晶CuCr50触头阴极表面电弧局部烧蚀严重,出现明显的凹坑侵蚀.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李震彪	华中科技大学强电磁工程与新技术国家重点试验室	47	630	15.0	22.0
2	赵来军	华中科技大学强电磁工程与新技术国家重点试验室	3	19	2.0	3.0
4	李慧杰		18	518	12.0	18.0
7	王珂	华中科技大学强电磁工程与新技术国家重点试验室	10	72	5.0	8.0
8	邱安宁		1	16	1.0	1.0