一个单滑移取向铜单晶体疲劳位错结构的热稳定性研究

• 作者: 任焕 李小武 王小蒙 郭巍巍 齐成军
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 工学
• 关键词: 铜单晶体 疲劳位错结构 再结晶 退火孪晶
• 年，卷（期）: 2012,（15）
• 页码范围: 407-413
• 分类号: TG146.11
• 语种: 中文

摘要

利用扫描电镜电子通道衬度（SEM-ECC）技术观察研究了[4 18 41]单滑移取向铜单晶体在不同塑性应变幅下的疲劳饱和位错结构及其在不同温度等时退火条件下的热稳定性.结果表明,在退火温度为300℃时,疲劳位错结构（如脉络结构、驻留滑移带PSB楼梯结构、PSB胞结构和迷宫结构等）均发生了明显回复.当退火温度高于500℃,上述这些疲劳位错结构基本消失,均发生了明显的再结晶现象,并大都伴随有退火孪晶的形成.分析认为,再结晶的发生和退火孪晶的出现不仅与退火温度和外加塑性应变幅有关,还与累积循环塑性应变量有着密切的关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭巍巍	东北大学理学院材料物理与化学研究所	4	3	1.0	1.0
2	齐成军	东北大学理学院材料物理与化学研究所	4	3	1.0	1.0
3	任焕	东北大学理学院材料物理与化学研究所	1	3	1.0	1.0
4	王小蒙	东北大学理学院材料物理与化学研究所	1	3	1.0	1.0