X射线衍射仪的X射线溯源

• 作者: 任玲玲 高慧芳
• 来源期刊: 计量技术
• 学科: 工学
• 关键词: X射线衍射仪 单色器 晶格 校准 不确定度 溯源
• 年，卷（期）: 2012,（8）
• 所属期刊栏目: 理论与实验
• 页码范围: 3-5
• 分类号: TN304.26
• 字数: 1289字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0771.2012.8.001

摘要

针对X射线波长短、能量高,不易直接将X射线波长溯源至SI国际单位,通过采用不同单色器单色化入射X射线,将入射光源溯源至单晶硅晶格参数.结果显示X射线波长引入的最大不确定度为0.0013nm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	任玲玲		35	122	6.0	9.0
2	高慧芳		11	24	3.0	4.0