针对土壤重金属污染的X荧光测试仪的设计

• 作者: 冯家林 夏劼清 殷庆纵
• 来源期刊: 自动化仪表
• 学科: 工学
• 关键词: X荧光 ARM 触摸屏 脉冲信号放大器 峰值检测 谱线
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 所属期刊栏目: 仪表设计与技巧
• 页码范围: 80-82,86
• 分类号: TL822+.4
• 字数: 2741字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0380.2012.10.023

摘要

为了快速检测土壤的重金属污染程度,设计了一种X荧光测试仪.该测试仪采用Si-PIN半导体X射线探测器作为检测传感器、ARM S3C2440A作为控制与数据处理核心,并使用WXCAT35 -TG3 #001F显示/触摸屏控制测试仪显示测量结果.测试仪可通过RS-232接口与PC机进行数据通信,也可现场快速分析测试土壤中重金属As、Cr、Zn、Cu、Pb、Ni等的含量.实际应用结果表明,测试仪工作可靠、运行稳定,实现了土壤重金属污染的快速检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	殷庆纵	苏州工业职业技术学院电子工程系	22	44	3.0	5.0
2	夏劼清		2	1	1.0	1.0
3	冯家林		1	0	0.0	0.0