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摘要:
X光底片作为记录缺陷形状、大小、数量的介质,其好坏对于无损检测人员做出正确分析和判断至关重要。总结了三门CV底封头拍摄过程中X光底片上伪缺陷产生的原因,并提出了相应的防止方法,可为以后的工作提供参考。
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文献信息
篇名 核电站安全壳X光底片伪缺陷的产生及防止办法
来源期刊 无损检测 学科 工学
关键词 安全壳 X光底片 伪缺陷 防止办法
年,卷(期) 2012,(2) 所属期刊栏目 实践经验
研究方向 页码范围 68-69
页数 2页 分类号 TG115.28
字数 语种 中文
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1 聂炯 7 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
安全壳
X光底片
伪缺陷
防止办法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
无损检测
月刊
1000-6656
31-1335/TG
大16开
上海市邯郸路99号
4-237
1978
chi
出版文献量(篇)
4436
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11
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