SRAM型FPGA的单粒子效应及TMR设计加固

• 作者: 刘涛 潘卫军 王华 黄伟
• 来源期刊: 航天返回与遥感
• 学科: 航空航天
• 关键词: 现场可编程门阵列 航天器件可靠性 单粒子效应 三模冗余
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 遥感技术
• 页码范围: 49-53
• 页数: 5页
• 分类号: V423.4
• 字数: 1500字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-8518.2012.02.011

摘要

宇宙空间中存在多种高能粒子,其辐射效应会严重威胁航天器中现场可编程门阵列（FieldProgrammable Gate Array,FPGA）器件工作的可靠性。文章研究了静态随机存储器型（Static Random AccessMemory,SRAM）FPGA中的单粒子翻转效应。理论计算表明,采用三模冗余（Triple Module Redundancy,TMR）设计方法可以有效缓解FPGA中的单粒子翻转问题。针对传统TMR设计方法的不足,提出了一种改进的TMR设计架构,并将该架构应用于某星载关键控制电路的设计中。文中的研究成果对SRAM型FPGA的空间应用有一定参考作用。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘涛		15	53	5.0	6.0
2	王华		5	48	5.0	5.0
3	潘卫军		8	40	4.0	6.0
4	黄伟		33	178	8.0	12.0