泰克专家详解测试技术演进

• 作者: 陆楠
• 来源期刊: EDN CHINA 电子设计技术
• 学科: 工学
• 关键词: MDO Thunderbolt SATAIII SAS 泰克
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 页码范围: 75-76
• 页数: 2页
• 分类号: TM935.37
• 字数: 1621字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1023-7364.2012.06.033

摘要

日前,泰克2012年春季创新论坛在深圳开幕,当天的课程围绕高速串行总线测试、高性能存储系统技术、泰克最新的MDO混合域示波器、DPO/MSO数字荧光示波器的应用和测试方法以及汽车和LED照明驱动等应用测试进行。泰克资深工程师和专家也分别就这些领域的技术发展分享了自己的观点。