QFP系列老炼测试插座中接触片的设计

• 作者: 周庆平 肖颖
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 老炼测试插座 接触片 材料 设计
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 3-6
• 分类号: TN784
• 字数: 2823字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2012.01.001

摘要

本文介绍了QFP系列老炼测试插座中弹性元件-接触片的设计,对其结构、材料选用和关键尺寸、应力、强度、接触压力计算等方面进行综合分析,从而保证接触片设计的合理性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖颖	中国电子科技集团公司第四十研究所	6	10	2.0	2.0
2	周庆平	中国电子科技集团公司第四十研究所	5	6	2.0	2.0