测量斜率的面内不敏感双孔径数字散斑剪切干涉术

• 作者: 张成斌 梁智锦 王开福 许星 顾国庆
• 来源期刊: 南京航空航天大学学报（英文版）
• 学科: 工学
• 关键词: 数字散斑剪切干涉术 斜率 时间相移 双孔径
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 页码范围: 367-372
• 页数: 6页
• 分类号: TN911.74
• 字数: 1095字
• 语种: 英文

摘要

为了测量离面位移的一阶导数即斜率分布信息,提出了一种改进的对面内分量不敏感的双孔径数字散斑剪切干涉技术,利用时间相移技术进行条纹的定量分析.双孔径装置固定在成像系统前,玻璃楔片放置在任意一个孔径前以便引起横向剪切.通过实验测量一个周边固支,同时受离面变形和面内转动载荷的圆板的斜率分布.实验结果表明,利用该光学系统得到的条纹图仅表示斜率条纹轮廓,而条纹图中由面内位移以及相应的应变分量的影响都被彻底去除.实验结果和理论分析结果吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王开福	南京航空航天大学航空宇航学院	21	132	7.0	10.0
2	顾国庆	南京航空航天大学航空宇航学院	9	58	5.0	7.0
3	张成斌	南京航空航天大学航空宇航学院	7	37	3.0	6.0
4	许星	南京航空航天大学航空宇航学院	4	10	1.0	3.0
5	梁智锦	南京航空航天大学航空宇航学院	3	22	2.0	3.0