航天电磁继电器加速贮存退化试验测试系统的设计与实现

• 作者: 叶雪荣 王召斌 翟国富 马跃 黄晓毅
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 航天电磁继电器 贮存 加速退化 测试系统 接触电阻 时间参数
• 年，卷（期）: 2012,（13）
• 所属期刊栏目: 智能电器
• 页码范围: 15-20,24
• 分类号: TM581.3
• 字数: 3641字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2012.13.004

摘要

通过采用加速退化试验的研究方法,解决航天电磁继电器加速贮存中出现小子样零失效时的贮存可靠性评估问题,初步给出了航天电磁继电器加速贮存退化试验方案,开发了航天电磁继电器加速贮存退化试验测试系统.试验结果表明,该系统具有接触电阻和时间参数测试精度高、可测样品数量大、退化参数变化曲线直观等的特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翟国富	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	280	2576	26.0	34.0
2	叶雪荣	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	56	265	9.0	13.0
3	王召斌	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	4	65	4.0	4.0
4	马跃	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	4	22	2.0	4.0
5	黄晓毅	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	3	22	2.0	3.0