基于数字化虚拟电机硬件在环实时仿真测试

• 作者: 姜淑影 朱培骏 高瑾 黄艳 黄苏融
• 来源期刊: 电机与控制应用
• 学科: 工学
• 关键词: 数字化电机 半实物仿真 硬件在环 饱和效应
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 20-25
• 分类号: TM302
• 字数: 2400字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-6540.2012.07.006

摘要

提出了一种基于数字化虚拟电机闭环控制的半实物仿真测试平台.为了更精确地模拟内置式永磁同步电机( IPMSM)宽调速、高转矩的运行特性,基于现场可编程门阵列(FPGA),构建一种考虑电感饱和效应的IPMSM硬件在环(HIL)数字化电机仿真平台.利用有限元计算及Verilog语言编程,建立IPMSM及逆变器模型,整个系统的仿真步长为1μs,逼近真实工况.控制器方面使用与Simulink无缝连接的快速控制原型,对数字化电机采用传统的最大转矩电流比(MTPA)与弱磁控制相结合的控制策略.得到了数字化电机闭环控制的试验波形,讨论了电感饱和效应对传统定参数模型控制效果的影响,体现了这种半实物仿真测试平台作为一种测试控制器算法的可行性和优越性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄苏融	上海大学机电工程与自动化学院	96	1066	19.0	27.0
2	高瑾	上海大学机电工程与自动化学院	20	218	10.0	14.0
3	黄艳	上海大学机电工程与自动化学院	6	33	3.0	5.0
4	朱培骏	上海大学机电工程与自动化学院	3	45	3.0	3.0
5	姜淑影	上海大学机电工程与自动化学院	3	44	2.0	3.0