辉光放电质谱应用和定量分析

• 作者: 周涛 徐常昆 赵永刚
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 辉光放电质谱 高纯金属 深度分析 定量分析
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 综述与进展
• 页码范围: 47-56
• 分类号: O657.63
• 字数: 11245字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2012.01.005

摘要

辉光放电质谱(GDMS)是利用辉光放电源作为离子源的一种无机质谱方法.GDMS采用固体进样,样品准备过程简单、分析速度快、基体效应小、线性范围宽,是痕量分析的一种重要分析手段,在国外已经成为高纯金属和半导体分析的行业标准方法.GDMS可以进行深度分析,选择合适的放电条件,可以在样品表面获得平底坑,深度分辨率可以满足对微米量级的层状样品进行测量.目前商业化的GDMS都是直流放电源,这些仪器需要用第二阴极法或混合法才能对非导电材料进行测量,从而限制了GDMS在非导体材料分析方面的应用.GDMS放电源和单接收方式并不能满足同位素丰度精确测量的要求,在精确度要求不高的情况下,GDMS在固体样品同位素丰度的快速测量方面还是有一定的应用价值.文章总结了近几年国内外GDMS在各领域的应用进展和定量分析技术发展方向.GDMS已经成为一种高纯导电材料分析的重要方法;在深度分析、非导电材料分析、固体同位素丰度快速测量中有一定的应用前景.在定量测量方面,由于受到基体、测量条件等影响因素较多,缺乏合适的基体匹配的标准物质用于校正,GDMS主要停留在定性和半定量分析阶段.目前,国外已有关于GDMS定量分析的报道,采用掺杂的方法合成校正样品,利用一系列校正样品获得的标准曲线实现定量分析,这种方法过程较为复杂,但可以获得较好的定量分析结果,是一种不错的校正方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周涛		24	87	5.0	7.0
2	徐常昆		7	21	3.0	4.0
3	赵永刚		51	122	7.0	9.0