实施SPC过程中合格率与Cpk值辨析

• 作者: 刘建
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 合格率 工序能力指数 统计过程控制 电子元器件
• 年，卷（期）: 2012,（z1）
• 所属期刊栏目: 可靠性设计与工艺控制
• 页码范围: 238-241
• 分类号: TB114.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2012.z1.059

摘要

工序能力指数(Cpk)值可以换算出成品率,但成品率与工序合格率并不相同,不能混为一谈.但在实际工作中,经常会出现将两者相比对的情形.针对Cpk成品率与工序合格率的异同进行了辨析,并指出只有Cpk在检验合格的工序产品的基础上进行统计,对国内某些电子元器件企业才具有现实的工序提升指导作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘建		4	12	3.0	3.0