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摘要:
随着制程进入深亚微米时代,芯片设计和片上系统( SoC)设计越来越复杂,此一趋势使得如何确保IC质量成为目前所有设计从业人员不得不面临的重大课题.简单介绍了静态时序分析的基础概念及其在IC设计流程中的应用.
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文献信息
篇名 专用集成电路静态时序分析
来源期刊 微处理机 学科 工学
关键词 专用集成电路设计 设计约束 静态时序分析
年,卷(期) 2012,(2) 所属期刊栏目 大规模集成电路设计、制造与应用
研究方向 页码范围 17-18,22
页数 分类号 TN4
字数 1885字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-2279.2012.02.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张伟 中国电子科技集团公司第四十七研究所 77 123 6.0 7.0
2 唐拓 中国电子科技集团公司第四十七研究所 3 11 2.0 3.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
专用集成电路设计
设计约束
静态时序分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微处理机
双月刊
1002-2279
21-1216/TP
大16开
沈阳市皇姑区陵园街20号
1979
chi
出版文献量(篇)
3415
总下载数(次)
7
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