基于加速退化试验和粒子滤波的电子设备故障预测方法

• 作者: 孙际哲 徐宇亮 王光明 陈西宏
• 来源期刊: 航空学报
• 学科: 工学
• 关键词: 故障预测 加速退化试验 寿命评估 粒子滤波 电子设备
• 年，卷（期）: 2012,（8）
• 所属期刊栏目: 电子与自动控制
• 页码范围: 1483-1490
• 分类号: V442|TP277
• 语种: 中文

摘要

针对导弹电子设备故障预测问题,提出了一种基于综合环境加速退化试验(ADT)和粒子滤波的故障预测新方法.首先,不同于传统的ADT方案,仅以单个样本为试验对象,采用步进加速的思想,将性能退化理论拓展为加速性能退化理论(APDT),建立基于电子设备寿命退化速度的加速寿命退化模型.其次,为克服环境应力等测试不确定性因素对预测精度的影响,定义了电子设备退化度的概念,将寿命预测的不确定性问题转化为设备退化度最优估计问题,利用改进粒子滤波算法求解出电子产品动态退化的最优估计值,进而实现设备的全寿命评估.最后,实例说明该方法可行、有效,并大大提高了试验的效费比.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王光明	空军工程大学导弹学院	140	562	12.0	14.0
2	陈西宏	空军工程大学导弹学院	140	621	11.0	16.0
3	孙际哲	空军工程大学导弹学院	21	172	8.0	12.0
4	徐宇亮	空军工程大学导弹学院	8	97	5.0	8.0