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硅探测器加工中的离子注入工艺设计与控制
硅探测器加工中的离子注入工艺设计与控制
作者:
唐海林
张莉
罗剑波
谭刚
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
离子注入
硅pin辐射探测器
pn结
注入能量
注入剂量
死层
摘要:
应用离子注入工艺可制备获得线性电流大、窗口死层薄的硅pin辐射探测器.首先简要介绍了离子注入工艺形成pn结的原理,重点根据技术要求进行了离子注入工艺设计和计算,分别得到了注入能量为40 keV和注入剂量为4×1014/cm2的两个重要控制参数.同时分析了在离子注入工艺中存在的影响因素和相应处理方法,对生产具有良好的指导作用.采用所设计的工艺参数制备获得的硅pin辐射探测器各项技术指标均满足要求,验证了离子注入工艺设计与参数控制的有效性.
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文献信息
篇名
硅探测器加工中的离子注入工艺设计与控制
来源期刊
微纳电子技术
学科
工学
关键词
离子注入
硅pin辐射探测器
pn结
注入能量
注入剂量
死层
年,卷(期)
2012,(12)
所属期刊栏目
加工、测量与设备
研究方向
页码范围
824-828
页数
分类号
TN305.3
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1671-4776.2012.12.011
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
唐海林
中国工程物理研究院电子工程研究所
16
76
5.0
8.0
2
张莉
中国工程物理研究院电子工程研究所
8
17
2.0
4.0
3
谭刚
中国工程物理研究院电子工程研究所
10
47
4.0
6.0
4
罗剑波
中国工程物理研究院电子工程研究所
3
2
1.0
1.0
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参考文献(0)
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二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
离子注入
硅pin辐射探测器
pn结
注入能量
注入剂量
死层
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微纳电子技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1671-4776
CN:
13-1314/TN
开本:
大16开
出版地:
石家庄市179信箱46分箱
邮发代号:
18-60
创刊时间:
1964
语种:
chi
出版文献量(篇)
3266
总下载数(次)
22
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