基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
应用离子注入工艺可制备获得线性电流大、窗口死层薄的硅pin辐射探测器.首先简要介绍了离子注入工艺形成pn结的原理,重点根据技术要求进行了离子注入工艺设计和计算,分别得到了注入能量为40 keV和注入剂量为4×1014/cm2的两个重要控制参数.同时分析了在离子注入工艺中存在的影响因素和相应处理方法,对生产具有良好的指导作用.采用所设计的工艺参数制备获得的硅pin辐射探测器各项技术指标均满足要求,验证了离子注入工艺设计与参数控制的有效性.
推荐文章
离子注入型与金硅面垒型半导体探测器温度特性比较
半导体探测器
温度特性
离子注入型
金硅面垒型
双面硅条探测器读出系统设计
读出电子学
半导体探测器
ASIC
带电粒子探测
系统噪声
硅像素探测器读出芯片的设计
硅像素探测器
读出芯片
时间过阈技术
快速退火炉离子注入退火工艺设计
快速热退火
离子注入
硅片
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 硅探测器加工中的离子注入工艺设计与控制
来源期刊 微纳电子技术 学科 工学
关键词 离子注入 硅pin辐射探测器 pn结 注入能量 注入剂量 死层
年,卷(期) 2012,(12) 所属期刊栏目 加工、测量与设备
研究方向 页码范围 824-828
页数 分类号 TN305.3
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-4776.2012.12.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 唐海林 中国工程物理研究院电子工程研究所 16 76 5.0 8.0
2 张莉 中国工程物理研究院电子工程研究所 8 17 2.0 4.0
3 谭刚 中国工程物理研究院电子工程研究所 10 47 4.0 6.0
4 罗剑波 中国工程物理研究院电子工程研究所 3 2 1.0 1.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (3)
共引文献  (4)
参考文献  (10)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1992(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1996(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2001(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2003(2)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(0)
2004(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2005(3)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(2)
2007(2)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(0)
2011(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2012(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
离子注入
硅pin辐射探测器
pn结
注入能量
注入剂量
死层
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微纳电子技术
月刊
1671-4776
13-1314/TN
大16开
石家庄市179信箱46分箱
18-60
1964
chi
出版文献量(篇)
3266
总下载数(次)
22
论文1v1指导