基于电离室阵列测量X射线半值层实验的研究

• 作者: 余真 尹虹又 张友德 陈宇 雷虹 龚岚
• 来源期刊: 中国测试
• 学科: 医学
• 关键词: 电离室阵列 辐射质 吸收片 半值层 衰减曲线
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 物理测试
• 页码范围: 43-45,64
• 分类号: R144.1|R814.2|TH744|TM930.114
• 字数: 1239字
• 语种: 中文

摘要

目前测量X诊断医用辐射源的半值层的方法基本采用人工叠加吸收片,测量出射线穿透不同厚度吸收片后的照射量,从而采用绘图方法或插入法计算X诊断医用辐射源的半值层[1],该方法曝光次数多,光机损伤大,操作不方便.为了准确测量诊断X射线的辐射质,减少工作量,设计一种电离室阵列测量方案,通过单次测量不同厚度吸收片下的剂量值,根据衰减曲线插值计算得到给定千伏下的半值层.通过测试比较,电离室阵列测量方案操作简单,数据准确,曝光次数少,能减少光机的损耗,具有较高的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈宇		6	24	2.0	4.0
2	龚岚		10	25	3.0	4.0
3	张友德		7	28	4.0	5.0
4	尹虹又		1	0	0.0	0.0
5	余真		1	0	0.0	0.0
6	雷虹		1	0	0.0	0.0