嵌入C语言的测试驱动开发：为什么要调试？

• 作者: James W Grenning
• 来源期刊: EDN CHINA 电子设计技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试驱动 调试 bug TDD 嵌入C语言
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 页码范围: 46-46,48-51
• 页数: 5页
• 分类号: TP311.52
• 字数: 4442字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1023-7364.2012.06.017

摘要

测试驱动的开发有助于改善日程可预测性以及产品质量,它能在编bug列表以前将其解决。我们的工作方式都是编写代码,然后努力让它运行起来。先建立,然后改错。测试是以后的事,即写完代码后才要做的事。在不可预期的调试工作上,大概要花掉我们一半的时间。在日程表上

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	James W Grenning		1	0	0.0	0.0