硅系相变材料的研究进展

• 作者: 季鑫 宓一鸣 李明 言智
• 来源期刊: 上海工程技术大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 相变材料 原位变温X线衍射 物相结构
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 材料与生态化工
• 页码范围: 263-266
• 分类号: TN304.9
• 字数: 2250字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-444X.2012.03.017

摘要

阐述了硅系相变材料的研究热点和应用前景.通过原位变温X线衍射(XRD)检测技术,揭示了硅系相变材料在变温过程中的物相结构变化.升温时,硅系相变材料由非晶态转化为晶态,电导性增加；降温时,由晶态转化为非晶态,电导性下降,这对相变储存器存储与擦除技术的实现起关键作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	季鑫	上海工程技术大学基础教学学院	16	115	5.0	10.0
2	宓一鸣	上海工程技术大学基础教学学院	37	195	7.0	13.0
3	言智	上海工程技术大学材料工程学院	14	89	5.0	9.0
4	李明	上海工程技术大学材料工程学院	14	38	3.0	6.0