纳米声学及近场声成像技术

• 作者: 程茜 钱梦騄
• 来源期刊: 声学技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 纳米声学 近场声成像 扫描探针声显微术 压电响应力显微术
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 超声学
• 页码范围: 393-397
• 分类号: O426.5
• 字数: 3606字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3630.2012.04.011

摘要

纳米声学是近年来迅速发展的新的学科领域,旨在亚微米和纳米尺度上来“听到”和“看到”我们尚未发现的物质世界.而近场声成像技术,像扫描探针声显微术(Scanning Probe Acoustic Microscopy,SPAM)和压电响应力显微术(Piezoresponce Force Microscopy,PFM)等,不仅具有亚微米和纳米分辨力,而且能方便地对试样微区的表面形貌,材料的力学和电学等性质进行成像,是开展纳米声学研究的有效手段.文章结合实验结果,对SPAM和PFM等近场声成像技术作了简要介绍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程茜	同济大学声学研究所	35	136	7.0	9.0
2	钱梦騄	同济大学声学研究所	55	708	11.0	25.0