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摘要:
为了克服继电器在集成电路测试板上触点烧蚀故障率较高,断开时易产生电磁干扰和开关时间过长等缺点,提出了一种基于MOS管的新型转换开关电路,能更加有效地测试芯片,显著降低芯片的成本。本文详细讨论了集成电路测试的要素和基本原则,继电器在测试板上的应用及其局限性,基于MOS管的新型转换开关电路的特点及控制原理。仿真结果表明,该电路在10v电源电压下开关的转换速度为70μs,工作频率可达100kHz以上,灵敏度高,适用于集成电路测试。
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文献信息
篇名 基于MOS管的新型转换开关在集成电路测试中的应用
来源期刊 电子测试 学科 工学
关键词 集成电路 测试板 继电器 MOS管
年,卷(期) 2012,(4) 所属期刊栏目 测试工具与解决方案
研究方向 页码范围 66-71
页数 6页 分类号 TN431.1
字数 3438字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-8519.2012.04.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 姜岩峰 北方工业大学信息工程学院微电子系 44 285 7.0 15.0
2 范莹莹 北方工业大学信息工程学院微电子系 1 5 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
集成电路
测试板
继电器
MOS管
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子测试
半月刊
1000-8519
11-3927/TN
大16开
北京市100098-002信箱
82-870
1994
chi
出版文献量(篇)
19588
总下载数(次)
63
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