蔡司Metrotom顶级的无损检测与工业CT测量技术

• 来源期刊: 模具工程
• 学科: 地球科学
• 关键词: 测量技术 工业CT 无损检测 断层扫描 成像技术 技术融合 断层成像 无损测量
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 页码范围: 53
• 页数: 1页
• 分类号: P631.4

摘要

蔡司的Metrotom系统，其断层成像技术融合了计量学和断层扫描，通过计算机重构实现了结果的可视化。与传统测量中的破坏测量相比，利用断层成像技术可实现产品无损测量，无论是孔隙度或损伤分析，通过三维模型，一切尽收眼底。断层成像技术能大幅缩短产品的研发周期和质量分析时间，