两线星型扫描测试控制器设计

• 作者: 建珍珍 颜学龙
• 来源期刊: 大众科技
• 学科: 工学
• 关键词: IEEE1149.7标准 星型扫描拓扑 高级协议 MScan
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 页码范围: 63-66
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2746字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-1151.2012.03.025

摘要

针对现代测试系统需要较少的引脚实现测试要求的现状,IEEE 1149.7标准提供了2线星型（Star-2）扫描拓扑。由于目前Star-2扫描拓扑尚处于理论研究阶段,产生相关的测试信号对今后构建测试系统具有重要的意义。以该标准为依据,利用Quartus II开发平台设计了基于FPGA的两线星型扫描测试控制器,并通过Module-Sim6.4a进行了仿真验证。结果表明该控制器实现了标准协议和高级协议的相互转换,能够产生符合IEEE 1149.7标准的Star-2扫描测试信号以及MScan扫描格式。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜学龙	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	89	330	9.0	12.0
2	建珍珍	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	2	8	2.0	2.0