扫描电子显微镜在粒度分析中的应用

• 作者: 熊丽媛
• 来源期刊: 汽车零部件
• 学科: 工学
• 关键词: 扫描电子显微镜 微孔滤膜 粒度分析
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 80-83
• 分类号: TH742
• 字数: 2351字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-1986.2012.07.044

摘要

扫描电子显微镜(SEM)是利用聚焦极细的电子束作为照明源,以光栅状扫描方式照射到试样表面,并以入射电子与试样相互作用所产生的信息来进行成像的.采用扫描电子显微镜对收集在微孔滤膜上的颗粒进行分析,不仅可以观察微小颗粒的表面形貌,还可以与能谱仪配合进行颗粒粒径及数量的测量与统计,测试准确度高,因而在粒度分析领域具有不可替代的作用.主要介绍扫描电子显微镜在粒度分析中的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	熊丽媛		5	20	2.0	4.0