应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计

• 作者: 于新 卢健 张乐情 张兴尧 李豫东 胥佳灵 郭旗
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电荷耦合器件 辐射效应 现场可编程门阵列 通用测试电路 电离总剂量
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 所属期刊栏目: 半导体检测与测试技术
• 页码范围: 562-566
• 分类号: TN386.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2012.07.015

摘要

电荷耦合器件(CCD)辐射效应测试系统需具备通用性.通常情况下需要为每一种CCD设计一款测试电路,无法满足通用性要求,通用性电路的难点在于不同CCD要求不同的驱动通道数、驱动时序、信号占空比及工作点.提出了一种适用于多种CCD的测试电路设计方法.以现场可编程门阵列(FPGA)负责时序发生、工作点调节及整个系统的控制,驱动模块采用工作点可调的模式,并结合电荷泵技术,仅需更改FPGA设计及给驱动模块提供不同的工作点电压,便可使以上驱动参数可调,实现测试电路的通用性.采用该方法进行测试还可以适应CCD辐照后工作点的变化.最后通过正确驱动TCD1209线阵CCD和4096×96型TDI-CCD,并对TDI-CCD总剂量辐照实验进行正确的参数测试,验证了通用测试电路设计方法的可行性.