微波组件失效统计分析与质量控制

• 作者: 曹耀龙
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微波组件 可靠性 失效 统计分析 质量控制
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 558-561
• 分类号: TN609
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2012.07.014

摘要

微波组件产品广泛地应用于通信和导航等领域,其可靠性的高低是影响电子装备可靠性的重要因素.通过对55个微波组件产品的失效案例进行统计分析,得出了微波组件失效的原因,其中主要原因是操作问题、工艺问题、调试问题、元器件问题和用户使用问题,分别对这5类问题进行了具体分析和说明.从设计、生产、采购、检验和使用等方面分析了影响微波组件质量的因素,提出了相应的质量控制方法和应注意的问题.为微波组件的质量控制提供了有价值的统计数据和分析结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹耀龙	中国电子科技集团公司第十三研究所	3	12	1.0	3.0